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Experimental determination of dielectric barrier discharge capacitance (2012)

Pipa, A. V. ; Hoder, T. ; Koskulics, J. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Review of Scientific Instruments. 2012; 83(7): 075111. Published 2012 Jul 01. doi: 10.1063/1.4737623.

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Publikationsdatum: 2012-07-01

Print ISSN: 0034-6748

Digitale ISSN: 1089-7623

Thema: Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik , Physik

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Electron beam ion sources for use in second generation synchrotrons for medical particle therapy (2014)

Zschornack, G. ; Ritter, E. ; Schmidt, M. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Review of Scientific Instruments. 2014; 85(2): 02B702. Published 2014 Feb 01. doi: 10.1063/1.4827306.

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Publikationsdatum: 2014-02-01

Print ISSN: 0034-6748

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Thema: Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik , Physik

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Permanent magnet electron beam ion source/trap systems with bakeable magnets for improved operation conditions (2014)

Schmidt, M. ; Zschornack, G. ; Kentsch, U. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Review of Scientific Instruments. 2014; 85(2): 02B704. Published 2014 Feb 01. doi: 10.1063/1.4828723.

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Publikationsdatum: 2014-02-01

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A compact, versatile low-energy electron beam ion source (2014)

Zschornack, G. ; König, J. ; Schmidt, M. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Review of Scientific Instruments. 2014; 85(2): 02B703. Published 2014 Feb 01. doi: 10.1063/1.4826687.

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Publikationsdatum: 2014-02-01

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Lifetime of MCP-PMTs and other performance features (2018)

Lehmann, A. ; Böhm, M. ; Eyrich, W. ; [weitere]

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In: Journal of Instrumentation. 2018; 13(02): C02010-C02010. Published 2018 Feb 06. doi: 10.1088/1748-0221/13/02/c02010.

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Publikationsdatum: 2018-02-06

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The PANDA Endcap Disc DIRC (2018)

Föhl, K. ; Ali, A. ; Belias, A. ; [weitere]

Institute of Physics

In: Journal of Instrumentation. 2018; 13(02): C02002-C02002. Published 2018 Feb 02. doi: 10.1088/1748-0221/13/02/c02002.

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Particle identification algorithms for the PANDA Endcap Disc DIRC (2017)

Schmidt, M. ; Ali, A. ; Belias, A. ; [weitere]

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In: Journal of Instrumentation. 2017; 12(12): C12051-C12051. Published 2017 Dec 22. doi: 10.1088/1748-0221/12/12/c12051.

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Publikationsdatum: 2017-12-22

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Unipolar behavior of asymmetrically doped strained Si0.5Ge0.5 tunneling field-effect transistors (2012)

Schmidt, M. ; Minamisawa, R. A. ; Richter, S. ; [weitere]

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In: Applied Physics Letters. 2012; 101(12): 123501. Published 2012 Sep 17. doi: 10.1063/1.4751356.

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Publikationsdatum: 2012-09-17

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Co/Au multilayers with graded magnetic anisotropy for magnetic field sensing (2012)

Matczak, M. ; Kuświk, P. ; Szymański, B. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2012; 100(16): 162402. Published 2012 Apr 16. doi: 10.1063/1.4704176.

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Publikationsdatum: 2012-04-16

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Competitive carrier interactions influencing the emission dynamics of GaAsSb-capped InAs quantum dots (2012)

Pavarelli, N. ; Ochalski, T. J. ; Liu, H. Y. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2012; 101(23): 231109. Published 2012 Dec 03. doi: 10.1063/1.4769431.

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Publikationsdatum: 2012-12-03

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