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On 2D-FTIR-XRF microscopy – A step forward correlative tissue studies by infrared and hard X-ray radiation (2022)

Surowka, Artur D. ; Czyzycki, Mateusz ; Ziomber-Lisiak, Agata ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2022; 232: 113408. 113408. Published 2022 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113408.

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Electron crystallography of chiral and non-chiral small molecules (2022)

Zhou, Weijiang ; Bammes, Benjamin ; Mitchell, Patrick G. ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2022; 232: 113417. 113417. Published 2022 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113417.

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Displacement separation analysis from atomic-resolution images (2022)

Zhang, Yang ; Yu, Rong ; Zhu, Jing

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In: Ultramicroscopy. 2022; 232: 113404. 113404. Published 2022 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113404.

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Scattering angle dependence of temperature susceptivity of electron scattering in scanning transmission electron microscopy (2022)

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In: Ultramicroscopy. 2022; 232: 113419. 113419. Published 2022 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113419.

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In: Ultramicroscopy. 2022; 232: 113395. 113395. Published 2022 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113395.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113144. 113144. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113144.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113146. 113146. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113146.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113166. 113166. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113166.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113161. 113161. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113161.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113164. 113164. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113164.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113160. 113160. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113160.

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Grain analysis of atomic force microscopy images via persistent homology (2021)

Duman, Ali Nabi

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113176. 113176. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113176.

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Factors affecting Confidence Index in EBSD analysis (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113269. 113269. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113269. [early online release]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113265. 113265. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113265. [early online release]

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Voltage modulation efficiency in scanning capacitance microscopy (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113266. 113266. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113266. [early online release]

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Shape from projections via differentiable forward projector for computed tomography (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 224: 113239. 113239. Published 2021 May 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113239.

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Efficient large field of view electron phase imaging using near-field electron ptychography with a diffuser (2021)

Allars, Frederick ; Lu, Peng-Han ; Kruth, Maximilian ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113257. 113257. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113257. [early online release]

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Application of electron tomography for comprehensive determination of III-V interface properties (2021)

Nicolai, Lars ; Biermann, Klaus ; Trampert, Achim

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In: Ultramicroscopy. 2021; 224: 113261. 113261. Published 2021 May 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113261.

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Day, Alec C. ; Breen, Andrew J. ; Ringer, Simon P.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 224: 113262. 113262. Published 2021 May 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113262.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113258. 113258. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113258. [early online release]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113256. 113256. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113256. [early online release]

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O'Hanlon, T.J. ; Massabuau, F C-P. ; Bao, A. ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113255. 113255. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113255. [early online release]

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Quantitative agreement between dynamical rocking curves in ultrafast electron diffraction for x-ray lasers (2021)

Malin, L.E. ; Graves, W.S. ; Holl, M. ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 223: 113211. 113211. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113211.

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Support vector machine for EELS oxidation state determination (2021)

del-Pozo-Bueno, D. ; Peiró, F. ; Estradé, S.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 221: 113190. 113190. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113190.

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Fast versus conventional HAADF-STEM tomography of nanoparticles: advantages and challenges (2021)

Vanrompay, Hans ; Skorikov, Alexander ; Bladt, Eva ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 221: 113191. 113191. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113191.

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Corrigendum to “Spin structure relation to phase contrast imaging of isolated magnetic Bloch and Néel skyrmions” [Ultramicroscopy 212 (2020) 112973] (2021)

Pöllath, S. ; Lin, T. ; Lei, N. ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113224. 113224. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113224. [early online release]

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Precise measurement of the electron beam current in a TEM (2021)

Krause, Florian F. ; Schowalter, Marco ; Oppermann, Oliver ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113221. 113221. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113221. [early online release]

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Contrast transfer and noise considerations in focused-probe electron ptychography (2021)

O’Leary, Colum M. ; Martinez, Gerardo T. ; Liberti, Emanuela ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 221: 113189. 113189. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113189.

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FANM: A software for focus and aberrations of nuclear microprobe (2021)

Dou, Yanxin ; van Kan, Jeroen Anton

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113163. 113163. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113163.

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Flat electron mirror (2021)

Krielaart, M.A.R. ; Kruit, P.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 220: 113157. 113157. Published 2021 Jan 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113157.

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High order phase contrast and source divergence in low energy electron microscopy (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 225: 113284. 113284. Published 2021 Jun 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113284.

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Gradient-based and wavelet-based compressed sensing approaches for highly undersampled tomographic datasets (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 225: 113289. 113289. Published 2021 Jun 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113289.

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Tuneable in-situ nanoCT workflow using FIB/SEM (2021)

Barabasová, Paulína ; Kováčová, Veronika ; Stejskal, Pavel ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113283. 113283. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113283. [early online release]

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Evaluation of electron radiation damage to green fluorescent protein (2021)

Ikegami, H. ; Akiba, K. ; Minoda, H.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113272. 113272. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113272. [early online release]

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Computer vision AC-STEM automated image analysis for 2D nanopore applications (2021)

Chen, Joshua ; Balan, Adrian ; Das, Paul Masih ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113249. 113249. Published 2021 Mar 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113249. [early online release]

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Quantifying the data quality of focal series for inline electron holography (2021)

Huang, Michael R.S. ; Eljarrat, Alberto ; Koch, Christoph T.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113264. 113264. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113264. [early online release]

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Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope (2021)

Řiháček, T. ; Horák, M. ; Schachinger, T. ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 225: 113268. 113268. Published 2021 Jun 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113268.

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Active calibration reference of minimized height for characterization of scanning thermal microscopy systems (2021)

Janus, Paweł ; Szmigiel, Dariusz ; Sierakowski, Andrzej ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 221: 113188. 113188. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113188.

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A simple method to clean ligand contamination on TEM grids (2021)

Li, Chen ; Tardajos, Adrian Pedrazo ; Wang, Da ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 221: 113195. 113195. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113195.

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Accurate measurement of strain at interfaces in 4D-STEM: A comparison of various methods (2021)

Mahr, Christoph ; Müller-Caspary, Knut ; Grieb, Tim ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 221: 113196. 113196. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2020.113196.

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A new solution to the curved Ewald sphere problem for 3D image reconstruction in electron microscopy (2021)

Chen, J.P.J. ; Schmidt, K.E. ; Spence, J.C.H. ; [weitere]

Elsevier

In: Ultramicroscopy. 2021; 113234. 113234. Published 2021 Feb 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113234. [early online release]

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Angular dynamics of small nanoparticles induced by non-vortex electron beams (2021)

Castellanos-Reyes, José Ángel ; Castrejón-Figueroa, Jesús ; Reyes-Coronado, Alejandro

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113274. 113274. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113274. [early online release]

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Fabrication and characterization of a miniaturized octupole deflection system for the MEMS electron microscope (2021)

Krysztof, M. ; Białas, M. ; Szyszka, P. ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113288. 113288. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113288. [early online release]

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Manganese Migration in Li1-xMn2O4 Cathode Materials (2021)

Calderon V, S. ; Ribeiro, R.M. ; Ferreira, P.J.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113285. 113285. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113285. [early online release]

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Quantifying the performance of a hybrid pixel detector with GaAs:Cr sensor for transmission electron microscopy (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113298. 113298. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113298. [early online release]

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Ultramicrotomy preparation of magnetic nanoparticles for transmission electron microscopy (2021)

Bian, Longchun ; Zheng, Liyan ; Cao, Qiue ; [weitere]

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113275. 113275. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113275. [early online release]

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Combining quantitative ADF STEM with SiNx membrane-based MEMS devices: A simulation study with Pt nanoparticles (2021)

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Effect of sample thinning on strains and lattice rotations measured from Transmission Kikuchi diffraction in the SEM (2021)

Karamched, Phani S. ; Saravanan, Naganand ; Haley, Jack C. ; [weitere]

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The studies on wet chemical etching via in situ liquid cell TEM (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113271. 113271. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113271. [early online release]

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Analysis and improvement of positioning reliability and accuracy of theta pipette configuration for scanning ion conductance microscopy (2021)

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Image-histogram-based secondary electron counting to evaluate detective quantum efficiency in SEM (2021)

Agarwal, Akshay ; Simonaitis, John ; Berggren, Karl K.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 224: 113238. 113238. Published 2021 May 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113238.

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A sorter for electrons based on magnetic elements (2021)

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In: Ultramicroscopy. 2021; 113287. 113287. Published 2021 Apr 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113287. [early online release]

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UEMtomaton: A Source-Available Platform to Aid in Start-up of Ultrafast Electron Microscopy Labs (2021)

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Hawkes, Peter ; Kirkland, Angus ; Smith, David J. ; [weitere]

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Wu, K.P. ; Gao, B.W. ; Zhang, F.H. ; [weitere]

Elsevier

In: Ultramicroscopy. 2021; 230: 113370. 113370. Published 2021 Nov 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113370.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 230: 113311. 113311. Published 2021 Nov 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113311.

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In: Ultramicroscopy. 2021; 230: 113389. 113389. Published 2021 Nov 01. doi: 10.1016/j.ultramic.2021.113389.

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