ALBERT

All Library Books, journals and Electronic Records Telegrafenberg

feed icon rss

Ihre E-Mail wurde erfolgreich gesendet. Bitte prüfen Sie Ihren Maileingang.

Leider ist ein Fehler beim E-Mail-Versand aufgetreten. Bitte versuchen Sie es erneut.

Vorgang fortführen?

Exportieren
  • 1
    Digitale Medien
    Digitale Medien
    New York, NY [u.a.] : Wiley-Blackwell
    X-Ray Spectrometry 8 (1979), S. 11-13 
    ISSN: 0049-8246
    Schlagwort(e): Chemistry ; Analytical Chemistry and Spectroscopy
    Quelle: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Thema: Physik
    Notizen: An X-ray fluorescence method for the measurement of film and coating thickness has been described for use in situations where standard foils of the same material are not available for comparison. The method is based on the measurement of combined mass absorption coefficient of the coating element at the excitation and at the fluorescent energies using thin samples of a compound in which the coating element is present and then calculating the coating thickness using the fluorescence equation. The paper describes the theoretical approach and presents the result of the measurement of certain film and coating thicknesses which support the theoretical considerations.
    Zusätzliches Material: 1 Ill.
    Materialart: Digitale Medien
    Standort Signatur Erwartet Verfügbarkeit
    BibTip Andere fanden auch interessant ...
Schließen ⊗
Diese Webseite nutzt Cookies und das Analyse-Tool Matomo. Weitere Informationen finden Sie hier...