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  • 1
    Publication Date: 1988-05-01
    Print ISSN: 0948-7921
    Electronic ISSN: 1432-0487
    Topics: Electrical Engineering, Measurement and Control Technology
    Published by Springer
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  • 2
    Electronic Resource
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    Springer
    Electrical engineering 71 (1988), S. 179-186 
    ISSN: 1432-0487
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Electrical Engineering, Measurement and Control Technology
    Description / Table of Contents: Contents Testing the tracking resistance according to IEC 112 with copper electrodes instead of platinum reduces the spread of the results and the testing time. Responsible is copper(I)-oxide being electrochemically originated in the moist surface layer. Under creepage current, it can be burnt to copper(II)-oxide by micro-arcs, causing additional thermal stress and enhancing tracking. For certain applications, this special mechanism by testing with copper electrodes might be closer to practical conditions.
    Notes: Übersicht Verwendet man beim Prüfverfahren auf Kriechwegbildung nach DIN IEC 112 Kupfer- statt Platinelektroden, so vermindern sich Ergebnisstreuung und Aufwand. Hierfür ist hauptsächlich Kupfer(I)-oxid verantwortlich, das elektrochemisch in der feuchten Fremdschicht auf dem Prüfling entsteht und das infolge kriechstrombedingter Gasentladungen zu Kupfer(II)-oxid verbrennen kann. Die dabei freiwerdende Reaktionsenthalpie addiert sich zur übrigen thermischen Belastung und verstärkt die Kriechspurbildung. Dieser besondere Wirkungsmechanismus läßt die Prüfung mit Kupferelektroden für bestimmte Anwendungsfälle praxisgerechter erscheinen.
    Type of Medium: Electronic Resource
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  • 3
    Electronic Resource
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    Weinheim [u.a.] : Wiley-Blackwell
    Materials and Corrosion/Werkstoffe und Korrosion 39 (1988), S. 287-292 
    ISSN: 0947-5117
    Keywords: Chemistry ; Polymer and Materials Science
    Source: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Topics: Mechanical Engineering, Materials Science, Production Engineering, Mining and Metallurgy, Traffic Engineering, Precision Mechanics
    Description / Table of Contents: The influence of corrosive atmospheres on low voltage insulationsThe insulation behaviour of electrotechnical equipment is deteriorated, if conductive corrosion products get between the electrodes under voltage stress. For accelerated simulation of this process, standardized test methods with corrosive atmospheres, containing SO2 and H2S, are used. The effect of these tests was investigated by using test specimens, consisting of Al2O3-ceramic, carrying dc-stressed electrode couples of copper, brass and lead-tin solder. By means of SIMS-analysis, it was found out, that the influence of H2S on copper and brass results in sulfid-containing corrosion products, which get on to the insulation between the electrodes. SO2-influence on brass or lead-tin solder electrodes only sporadically results in conductive connections, which are probably caused by metal dendrite growth.
    Notes: Das Isolationsverhalten elektrotechnischer Erzeugnisse wird beeinträchtigt, wenn leitfähige Korrosionsprodukte zwischen spannungsführende Elektroden gelangen. Zur zeitraffenden Simulation dienen genormte Prüfverfahren mit SO2- bzw. H2S-haltigen korrosiven Atmosphären. Die Wirkung derartiger Prüfungen wurde an Prüflingen aus Al2O3-Keramikplättchen mit gleichspannungsbeanspruchten Elektrodenpaaren aus Kupfer, Messing oder Lötzinn untersucht. Mit Hilfe von SIMS-Analysen wurde festgestellt, daß bei H2S-Einwirkung auf Kupfer und Messing sulfidhaltige Korrosionsprodukte in den Elektrodenzwischenraum gelangten. Vereinzelt unter SO2-Einwirkung entstandene leitende Verbindungen zwischen Messing- und Lötzinnelektrodenpaaren sind demgegenüber wahrscheinlich auf vorgewachsene Metalldendriten zurückzuführen.
    Additional Material: 3 Ill.
    Type of Medium: Electronic Resource
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