ISSN:
1618-2650
Keywords:
Best. der Stöchiometrie von Halbleitern
;
Röntgenfluorescenz-Spektrometrie
;
Cd-Hg-Se, Cd-Hg-Te
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
Summary Semiconductors of the composition Cd v Hg1−v Se and Cd x Hg1−x Te are gaining growing industrial interest. The energy gap between the bands of such systems depends significantly on the magnitude of the mole fractions v and x. X-ray fluorescence analysis of acid solutions of these crystals is a simple and precise procedure to determine the stoichiometry. Sample preparation, calibration series and results are discussed.
Notes:
Zusammenfassung Halbleiter der Typen Cd v Hg1−v Se und Cd x Hg1−x Te gewinnen zunehmend industrielles Interesse. Der Energieabstand der Bänder in solchen Systemen hängt entscheidend von der Größe der Molenbrüche v und x ab. Ein einfaches und sicheres Analysenverfahren zur Ermittlung der Stöchiometrie ist die Röntgenfluorescenzanalyse von sauren Lösungen dieser Kristalle. Die Probenvorbereitung, Eichreihen und Resultate werden diskutiert.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF00445956
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