ISSN:
0933-5137
Keywords:
Chemistry
;
Polymer and Materials Science
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Mechanical Engineering, Materials Science, Production Engineering, Mining and Metallurgy, Traffic Engineering, Precision Mechanics
Description / Table of Contents:
Lattice Constant Determination in Cubic Thin Films under Thermal StrainAn X-ray diffraction procedure is presented to determine the lattice constant of a cubic thin film which is thermally strained. The procedure also gives the thermal strain. As application examples, the lattice constants of thin aluminium and copper films deposited by ion-platting are evaluated from grazing incidence diffraction data.
Notes:
Ein Verfahren zur röntgenographischen Bestimmung der Gitterkonstanten einer kubischen dünnen Schicht, die herstellungsbedingt unter thermischer Dehnung steht, wird angegeben. Das Verfahren liefert zudem die wirksame-thermische Dehnung. Als Anwendungsbeispiele werden die Gitterkonstanten von ionenplattierten Aluminium- und Kupferschichten aus röntgenographischen Messungen mittels eines Seemann-Bohlin Diffraktometers mit streifendem Strahleinfall ermittelt.
Additional Material:
11 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19950260712
Permalink