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Surface roughening and columnar growth of thin amorphous CuTi films (1997)

Geyer, U. ; von Hülsen, U. ; Thiyagarajan, P.

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 1997; 70(13): 1691-1693. Published 1997 Mar 31. doi: 10.1063/1.118671.

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Publikationsdatum: 1997-03-31

Print ISSN: 0003-6951

Digitale ISSN: 1077-3118

Thema: Physik

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Defect characterization in amorphous silicon based solar cells by subband‐gap spectroscopy with constant photocurrent measurements (1991)

Frammelsberger, W. ; Rübel, H. ; Lechner, P. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 1991; 58(23): 2660-2662. Published 1991 Jun 10. doi: 10.1063/1.104799.

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Publikationsdatum: 1991-06-10

Print ISSN: 0003-6951

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Thema: Physik

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Nanocrystallization of amorphous-Ta40Si14N46 diffusion barrier thin films (2001)

Bicker, M. ; Pinnow, C.-U. ; Geyer, U. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2001; 78(23): 3618-3620. Published 2001 Jun 04. doi: 10.1063/1.1377626.

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Publikationsdatum: 2001-06-04

Print ISSN: 0003-6951

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Thema: Physik

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Superspace formulation of general massive gauge theories and geometric interpretation of mass-dependent Becchi–Rouet–Stora–Tyutin symmetries (2000)

Geyer, B. ; Mülsch, D.

American Institute of Physics

In: Journal of Mathematical Physics. 2000; 41(11): 7304-7332. Published 2000 Nov 01. doi: 10.1063/1.1288496.

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Publikationsdatum: 2000-11-01

Print ISSN: 0022-2488

Digitale ISSN: 1089-7658

Thema: Mathematik , Physik

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The osp(1,2)-covariant Lagrangian quantization of reducible massive gauge theories (1999)

Geyer, B. ; Lavrov, P. M. ; Mülsch, D.

American Institute of Physics

In: Journal of Mathematical Physics. 1999; 40(12): 6189-6208. Published 1999 Dec 01. doi: 10.1063/1.533086.

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Publikationsdatum: 1999-12-01

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Thema: Mathematik , Physik

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Determination of elastic constants in thin films using hydrogen loading (1999)

Laudahn, U. ; Fähler, S. ; Krebs, H. U. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 1999; 74(5): 647-649. Published 1999 Feb 01. doi: 10.1063/1.123028.

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Publikationsdatum: 1999-02-01

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Optical deflection setup for stress measurements in thin films (1998)

Bicker, M. ; von Hülsen, U. ; Laudahn, U. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Review of Scientific Instruments. 1998; 69(2): 460-462. Published 1998 Feb 01. doi: 10.1063/1.1148721.

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Surface modification during scanning tunneling microscope measurements on YBa2Cu3O7thin films (1994)

Geyer, Ulrich ; von Minnigerode, Gunther ; Krebs, Hans‐Ulrich

American Institute of Physics

In: Journal of Applied Physics. 1994; 76(12): 7774-7777. Published 1994 Dec 15. doi: 10.1063/1.357955.

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Publikationsdatum: 1994-12-15

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7Be tracer diffusion in a deeply supercooled Zr46.7Ti8.3Cu7.5Ni10Be27.5 melt (2001)

Rehmet, A. ; Rätzke, K. ; Faupel, F. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2001; 79(18): 2892-2894. Published 2001 Oct 29. doi: 10.1063/1.1412589.

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Publikationsdatum: 2001-10-29

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Electron-induced crosslinking of aromatic self-assembled monolayers: Negative resists for nanolithography (1999)

Geyer, W. ; Stadler, V. ; Eck, W. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 1999; 75(16): 2401-2403. Published 1999 Oct 18. doi: 10.1063/1.125027.

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