ISSN:
0049-8246
Keywords:
Chemistry
;
Analytical Chemistry and Spectroscopy
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Physics
Description / Table of Contents:
X-ray fluorescence analysis using an energy dispersive spectrometer system (Ge(Li) or Si(Li) and multichannel analyser) enables quick and simultaneous determination of different elements in a sample. The improvement of the detection limits to nanogram amounts of medium Z elements is achieved by reducing the unwanted background from scattered radiation. This is performed by X-ray total reflection on the plane, polished surface of the sample substrate at angles below the critical angle of total reflection, which is in the region of some milliradians and is measured between incident X-ray beam and surface of the substrate. In the case of X-ray total reflection the effective thickness of the substrate which is equivalent to the penetration depth of the X-rays lies between 40 and 70 nm. Therefore the substrate combines its good mechanical strength, chemical resistance and choice of dimensions with the low background properties of ultrathin foils as sample carrier. A counting interval of 120 s and a required sample volume of 5 μl are standard measuring conditions. Concentrations in the ppm region and absolute nanogram amounts can be detected.
Notes:
Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse ermöglicht die rasche und gleichzeitige Bestimmung verschiedener Elemente in einer Probe. Die bei Winkeln von einigen Minuten auftretende Totalreflexion von Röntgenstrahlen an der polierten Oberfläche eines Probenträgers, z.B. Quarzglas, und eine spezielle Geometrie-Primärstrahl-Probe-Detektor wird dazu verwendet, um den durch klassische und Compton-Streuung hervorgerufenen Hintergrund zu senken. Dadurch konnten Nachweisgrenzen für Elemente mittlerer Ordnungszahl im Nanogrammbereich erzielt werden. Tritt Totalreflexion von Röntgenstrahlen auf, so dringen diese nur in einer Tiefe von etwa 40-70 nm in den Probenträger ein und bestimmen dadurch die effektive Dicke. Man verbindet daher mechanische Festigkeit, chemische Widerstandsfähigkeit und beliebige Dimensionierung des Probenträgers mit den für geringen Hintergrund günstigen Eigenschaften extrem dünner Folien. Standardmeßzeiten von 120s und ein Probenvolumen von 5 μl sind ausreichend, um Konzentrationen im ppm Bereich, d.h. Absolutmengen von Nanogramm mit RFA nachzuweisen.
Additional Material:
13 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/xrs.1300080204
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