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Ultrafast carrier dynamics in Au∕GaAs interfaces studied by terahertz emission spectroscopy (2006)

Shi, Yulei ; Yang, Yuping ; Xu, Xinlong ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 88(16): 161109. Published 2006 Apr 17. doi: 10.1063/1.2196068.

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Publikationsdatum: 2006-04-17

Print ISSN: 0003-6951

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Thema: Physik

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Stabilization of the cubic phase of HfO2 by Y addition in films grown by metal organic chemical vapor deposition (2006)

Rauwel, E. ; Dubourdieu, C. ; Holländer, B. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 89(1): 012902. Published 2006 Jul 03. doi: 10.1063/1.2216102.

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Publikationsdatum: 2006-07-03

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Temperature dependence of a silicon power device switching parameters (2006)

Habchi, R. ; Salame, C. ; Khoury, A. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 88(15): 153503. Published 2006 Apr 10. doi: 10.1063/1.2194007.

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Impact of gate materials on positive charge formation in HfO2∕SiO2 stacks (2006)

Zhao, C. Z. ; Zhang, J. F. ; Zahid, M. B. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 89(2): 023507. Published 2006 Jul 10. doi: 10.1063/1.2220484.

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Temperature mapping and thermal lensing in large-mode, high-power laser diodes (2006)

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American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 89(20): 201110. Published 2006 Nov 13. doi: 10.1063/1.2388884.

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American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 89(8): 082906. Published 2006 Aug 21. doi: 10.1063/1.2338432.

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Generation of multicycle terahertz pulses via optical rectification in periodically inverted GaAs structures (2006)

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American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 89(18): 181104. Published 2006 Oct 30. doi: 10.1063/1.2367661.

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Charge trapping in polymer transistors probed by terahertz spectroscopy and scanning probe potentiometry (2006)

Lloyd-Hughes, J. ; Richards, T. ; Sirringhaus, H. ; [weitere]

American Institute of Physics

In: Applied Physics Letters. 2006; 89(11): 112101. Published 2006 Sep 11. doi: 10.1063/1.2340057.

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Excitation wavelength dependence of terahertz emission from InN and InAs (2006)

Chern, Grace D. ; Readinger, Eric D. ; Shen, Hongen ; [weitere]

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In: Applied Physics Letters. 2006; 89(14): 141115. Published 2006 Oct 02. doi: 10.1063/1.2358938.

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Comparative studies on the stability of polymer versus SiO2 gate dielectrics for pentacene thin-film transistors (2006)

Hwang, D. K. ; Lee, Kimoon ; Kim, Jae Hoon ; [weitere]

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In: Applied Physics Letters. 2006; 89(9): 093507. Published 2006 Aug 28. doi: 10.1063/1.2345243.

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