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thin section microscopy
Beschreibung / Inhaltsverzeichnis:
Die polarisationsmikroskopische Untersuchung von Materialien (Minerale, Gesteine, Erze, Werkstoffe, Syntheseprodukte) im Durchlicht und Auflicht ist eine der klassischen und bis heute unverzichtbaren mineralogischen Untersuchungsmethoden. Sie ermöglicht es, die festen Substanzen (kristallin, amorph) zerstörungsfrei und mit relativ hoher Ortsauflösung in ihrem Aggregatverband meist sicher zu identifizieren, ihre Zusammensetzungen abzu-schätzenund darüber hinaus aus den Gefügemerkmalen des Materials (Struktur, Textur, Phasenbestand, Phasenbeziehungen, Reaktionstexturen etc.) wichtige Hinweise auf dessen Bildungsgeschichte abzuleiten. Polarisationsmikroskopie ist dadurch den integrierenden Analyseverfahren an Probenpulvern zur Bestimmung des Phasenbestandes (RDA) und der chemischen Zusammensetzung (RFA, AAS) deutlich überlegen. Polarisationsmikroskopie gelangt jedoch an die Grenzen, wenn z.B. die chemische Zusammensetzung komplexer Mischphasen genau bestimmt werden muss oder die Feinkörnigkeit des Materials eine Bestimmung der einzelnen Phasen nicht mehr zulässt. Eine moderne materialwissen-schaftlicheUntersuchung wird daher stets entsprechend der jeweiligen Problemstellung und Materialbeschaffenheit die polarisationsmikroskopische Bearbeitung mit zerstörungsfreier, hoch ortsauflösender Analytik (EMS, REM-EDX, TEM) verbinden.
Die polarisationsmikroskopischen Bestimmungsmethoden der durchsichtigen amorphen und kristallinen Phasen (Gläser, Minerale, synthetische Substanzen) und die hierfür notwendigen kristalloptischen Zusammenhänge sind in zahlreichen deutsch-und englischsprachigen Lehrbüchern ausführlich behandelt (siehe Literaturauswahl). Die folgende Einführung in die Mineralbestimmung im Dünnschliff kann daher auf eine breite Darstellung des Stoffes verzichten. Für die praktische Arbeit am Polarisationsmikroskop genügt es, die erforder-lichenSachverhalte in einer prägnanten und auch dem mineralogisch wenig vorgebildeten Mikroskopierenden verständlichen Anleitung zusammenzufassen. Kristalloptische und kristallographische Grundlagen werden nur soweit behandelt, als sie für das Verständnis der beobachteten optischen Phänomene und morphologischen Merkmale notwendig erscheinen.
Die polarisationsmikroskopische Bestimmung der Minerale erfolgt anhand ihrer optischen und morphologischen Kennzeichen. Umfangreiche Tabellenwerke stellen die hierfür benötigte Datenbasis für eine außerordentliche Vielzahl von natürlichen Mineralen und synthetischen Phasen bereit (siehe Literaturauswahl).
Grundlage dieses Leitfadens bildet das in langjähriger Mikroskopiepraxis bewährte, seit einigen Jahren jedoch vergriffene Clausthaler Heft 14 „Methoden der Dünnschliffmikro-skopie“von G. Müller & M. Raith. Wir haben den Text weitgehend übernommen, das Bildmaterial jedoch graphisch modern überarbeitet, mit weiteren Abbildungen ergänzt sowie die vielfältigen Phänomene mit zahlreichen Mikrofotos veranschaulicht. Wir hoffen, dass dieser Leitfaden dem Studierenden das notwendige Rüstzeug für einen erfolgreichen Einstieg in die Polarisationsmikroskopie bereitstellt. Anregungen und Hinweise zur Darstellung sind jederzeit willkommen!
Seiten:
Online-Ressource (IV, 125 Seiten)
ISBN:
9783000364204
URL:
http://www.minsocam.org/msa/OpenAccess_publications/#Guide
Sprache:
Deutsch
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