Matrixkorrektur silikatischer Proben mit Hilfe der Compton-Streupeaks für die energiedispersive Röntgenfluorescenzanalyse

Summary

Correction via the Compton scattering peaks eliminates influences due to different mass absorption coefficents or densities of sample and standard. Besides that errors caused by incorrect sample position, variations in the high voltage generator and other changes in the equipment are also corrected. In order to separate Rayleigh and Compton scattering peaks a minimum excitation energy is necessary depending on the resolution of the detector. The sensitivity of the method increases with excitation energy. The method becomes particularly simple by measuring the maximum intensity of the Compton scattering peaks. Due to the high intensities short measuring times are sufficient.

Zusammenfassung

Das Korrekturverfahren mit Hilfe der Compton-Streupeaks erfaßt Fehler, die auf unterschiedlichen Massenabsorptionskoeffizienten bzw. Dichten von Probe und Standard beruhen. Außerdem werden Fehler durch falsche Probenposition, Schwankungen in der Hochspannungserzeugung und sonstige apparative Veränderungen mitkorrigiert. Um Rayleigh- und Compton-Streupeak zu trennen, ist je nach Auflösung des Detektors eine Mindestanregungsenergie notwendig. Die Empfindlichkeit der Methode steigt mit zunehmender Anregungsenergie. Durch Auswertung der Streupeaks im Peakmaximum ist die Methode besonders einfach. Wegen der hohen Intensitäten genügen kurze Meßzeiten.