Quantitative Dünnschicht-Chromatographie

Abstract

To avoid errors caused by irregularities of chromatoplates in quantitative TLC often double beam densitometers are used. This paper describes the simulation of different double beam instruments using a single beam scanner and digital computers, to obtain distinct data on the increase in accuracy. The relative standard deviations from a greater number of experiments are: single beam scanner 3–5%, double beam instrument 2–4% and dual wave-length scanner 2.5–4%.

Zusammenfassung

Zur Eliminierung von Störungen der quantitativen Auswertung von Dünnschicht-Chromatogrammen durch Unregelmäßigkeiten der Sorptionsschicht werden öfters Zweistrahlgeräte verwendet. Diese Arbeit berichtet über die Simulation verschiedener Zweistrahlgeräte auf einem Einstrahlgerät mit Hilfe von Digitalrechnern, um auf diesem Wege eindeutige Aussagen über den Genauigkeitsgewinn treffen zu können. Die relativen genäherten Standardabweichungen aus einer größeren Anzahl von Messungen ergaben folgende Werte: Einstrahlgerät 3–5%, Zweistrahlgerät 2–4% und Zweiwellenlängengerät 2,5–4%.