Feinstrahl-Elektronenbeugung im Universal-Elektronenmikroskop

Zusammenfassung

Zur Aufnahme von Feinstrahl-Elektronenbeugungsdiagrammen werden in die Projektionsstufe des 200 kV-Universal-Elektronenmikroskopes normale Objektiveinsätze nach dem Vorschlag des erstgenannten Verfassersumgekehrt eingesetzt. Je nach Wahl der magnetischen Erregung erfolgt dann in der Objektebene eine mehr oder weniger starke elektronenoptische Verringerung des Strahlquerschnittes gegenüber der Feinlochblende des Einsatzes. Z. B. durch Betätigung der Blendverstellungen kann die so entstehende Elektronensonde mikroskopischer Feinheit an beliebige Stellen des Präparates gelegt werden. Durch einfaches Herausdrehen der Blendzunge wird ein Übersichtsbild des Präparates erhalten. Bei gleichbleibender Spannung und magnetischer Erregung ergeben die Koordinaten der Durchstoßpunkte in den Beugungsdiagrammen unmittelbar die Orte der Sonden im Übersichtsbilde. An einem Blattgoldpräparat gewonnene Beugungsdiagramme, denen Strahldurchmesser von 1, 6, 15 und 150 μ zugrunde liegen, zeigen die praktischen Möglichkeiten der beschriebenen Arbeitsweise. Einige Feinstrahldiagramme von wichtigen Substanzen der Faserchemie finden sich im letzten Teil wiedergegeben und besprochen.