Zusammenfassung
Bei Elektroneninterferenzen an durchstrahlten Kristallen treten im Kristall zwei Wellenfelder auf, die beim Austritt ins Vakuum an einer zur Eintrittsfläche nicht parallelen Rückfläche unabhängig voneinander in insgesamt 4 Wellen zerfallen. Das Strahlungsfeld der sich überlagernden Wellen im Vakuum wird berechnet. Im Elektronenmikroskop wird die Teilchenstromdichte einer Ebene senkrecht zur Abbildungsachse beobachtbar. Wo sie innerhalb des Kristalls verläuft, wird ein virtuelles Objekt, die analytische Fortsetzung des Strahlungsfeldes in den Kristall hinein, abgebildet. Aus der Gesamtheit der Wellen wählt die Abbildungsart in der Regel entweder die Nullstrahlen oder die Interferenzstrahlen aus, deren resultierende Teilchenstromdichte dann in bekannter Weise als periodische Streifung parallel zu brechenden Kristallkanten sichtbar wird. Für Hellfeld- und für Dunkelfeldabbildungen mit kleiner Apertur ergeben sich aus dem Verlauf des Strahlungsfeldes Formeln für die Streifenperioden, die in erster Näherung mit den bisher verwendeten übereinstimmen. Das vollständige Strahlungsfeld im Vakuum, das bei Aperturen > 10−2und idealer Abbildung beobachtbar sein würde, ist periodisch nach 3 Raumrichtungen und würde im Bild zu einem Intensitätsraster führen, in welchem sich in äquidistanten Fleckreihen auch „Bilder“ der Netzebenen der Interferenz abzeichnen.
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Niehrs, H. Das Strahlungsfeld auf der Kristallrückseite bei Elektroneninterferenzen. Z. Physik 138, 570–597 (1954). https://doi.org/10.1007/BF01333527
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