ISSN:
1618-2650
Keywords:
Bestimmung von Lanthanoiden
;
Röntgenspektrometrie
;
protoneninduziert, Nachweisgrenzen, Empfindlichkeiten, dicke Proben, Mikroanalyse
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
Zusammenfassung Zum Vergleich der Leistungsfähigkeit von zerstörungsfreien Verfahren der Rastermikroanalyse wurden Lanthanoiden-Standardproben für die energiedispersive Röntgenspektralanalyse auf der Basis von synthetischem Ca-Al-Silicat-Glas mit je 3–5 Lanthanoidenelementen (3–4 Gew.-%) hergestellt. Mit protoneninduzierter Röntgenspektralanalyse wurden bei einer Analysenzeit von 60 s Nachweisgrenzen von 100–400 μg/g an diesen dicken Proben bestimmt. Diese Nachweisgrenzen sind um den Faktor 2 bis 15 günstiger als die unter vergleichbaren Bedingungen mit wellenlängendispersiver Elektronenmikroanalyse bestimmten Nachweisgrenzen. Messungen mit energiedispersiver Röntgenspektranalyse am Rasterelektronenmikroskop zeigen, daß die Protonenanregung gegenüber der Elektronenanregung an diesen dicken Proben ein um den Faktor 20 besseres Signal/Untergrund-Verhältnis liefert.
Notes:
Summary Different analytical possibilities with non-destructive methods of X-ray spectrometric micro analysis have been compared. Synthetic Ca-Al-silicate glass with three to five lanthanoids (3–4 weight %) has been used as standard samples for energy-dispersive X-ray spectral analysis. Detection limits of 100–400 μg/g with PIXE have been determined on thick samples in analysis time periods of 60 s. These values are better by a factor of 2 to 15 than detection limits obtained under comparable experimental conditions on an electron microprobe with a crystal spectrometer. The peak to background ratio on thick samples with PIXE yields values which are better by a factor of 20 than those measured in energy dispersive X-ray analysis on a scanning electron microscope.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF00439466
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