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  • 1980-1984  (2)
  • 1
    Electronic Resource
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    Weinheim : Wiley-Blackwell
    Zeitschrift für die chemische Industrie 92 (1980), S. 531-546 
    ISSN: 0044-8249
    Keywords: Chemistry ; General Chemistry
    Source: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Notes: Mit der Transmissionselektronenmikroskopie können bei kristallisierten Feststoffen kleine Baugruppen aus wenigen Koordinationspolyedern mit nahezu atomarer Auflösung direkt abgebildet werden („lattice imaging“). Genauere Kenntnisse der Voraussetzungen für die Direktabbildung sowie Verbesserungen an den Elektronenmikroskopen ermöglichen es heute, sehr kleine Defektbereiche (Mikrodomänen), Fehler in der Abfolge von Baugruppen oder Atomschichten (planare bzw. Wadsley-Defekte) sowie vereinzelte Baufehler in eng begrenzten Bereichen zu untersuchen, die kleiner als eine Elementarzelle sein können. Das Strukturprinzip kleinster geordneter Bereiche läßt sich auch dann noch bestimmen, wenn die Röntgen-Strukturanalyse versagt. Als Modelle zur Erprobung und Weiterentwicklung der Hochauflösungsmethode sind „Blockstrukturen“ besonders geeignet; an ihnen wurde der Nachweis dreidimensionaler, zweidimensionaler und eindimensionaler Defekte studiert.
    Additional Material: 20 Ill.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Location Call Number Expected Availability
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  • 2
    Electronic Resource
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    Weinheim : Wiley-Blackwell
    Angewandte Chemie International Edition in English 19 (1980), S. 505-520 
    ISSN: 0570-0833
    Keywords: Transmission electron microscopy ; Electron microscopy ; Solid-state reactions ; Chemistry ; General Chemistry
    Source: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Notes: Transmission electron microscopy (TEM) can be used with crystalline solids to obtain direct images of small structural groups comprising a few coordination polyhedra with resolution nearly down to atomic scale (“lattice imaging”). More exact knowledge of the conditions required for direct imaging, as well as improvements in the instruments themselves, have now made it possible to examine very small defect regions (microdomains), faults in the stacking sequence of structural groups or atom layers (planar or Wadsley defects), and isolated defects in narrowly delimited areas that may actually be below the dimensions of the unit cell. The structural principle of the very smallest ordered regions can even be determined when X-ray structure analysis proves unable to do this. “Block structures” are particularly suitable as models for the testing and further development of the high-resolution method; the detection of three-dimensional, two-dimensional, and one-dimensional defects has been studied on such structures.
    Additional Material: 20 Ill.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Location Call Number Expected Availability
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