ISSN:
0947-5117
Schlagwort(e):
Chemistry
;
Polymer and Materials Science
Quelle:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Thema:
Maschinenbau
Beschreibung / Inhaltsverzeichnis:
Untersuchungen zur Segregation von Y und Zr bei der Oxidation von NiAlKonventionelle, analytische und hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) sowie hochauflösende Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) wurden benutzt, um den Effekt von reaktiven Elementen auf die Oxidation von NiAl zu untersuchen. Polykristalline NiAl-Proben, dotiert mit 0,1 Mas.-% Y oder 0,2 Mas.-% Zr, wurden bei einer Temperatur von 1200°C oxidiert. 18O Tracer-Experimente in Verbindung mit hochauflösenden SIMS-Untersuchungen deuten darauf hin, daß reaktive Elemente die nach außen gerichtete Diffusion von Kationen reduzieren. Energiedispersive Röntgenspektroskopie mit einem dedizierten STEM zeigte, daß die reaktiven Elemente an den Korngrenzen in der Oxidschicht und an der Metall/Oxid-Grenzfläche segregieren. Der Anteil von Y bzw. Zr an den Korngrenzen in der Oxidschicht beträgt 0,2 Monolagen. Demgegenüber wurden an der Metall/Oxid-Grenzfläche 0,15 Monolagen (Zr-dotiert) bzw. 0,07 Monolagen (Y-dotiert) gefunden. In Y-reichen Teilchen im NiAl nahe der Metall/Oxid-Grenzfläche konnte Schwefel nachgewiesen werden.
Notizen:
Conventional electron microscopy, analytical electron microscopy, high resolution electron microscopy and high resolution SIMS have been used to investigate the effect of the reactive elements, Yand Zr, on the oxide scale formation on NiAl. Polycrystalline NiAl samples, doped with either 0. 1 wt% Yor 0.2 wt% Zr, were oxidized in air at 1200°C. 18O tracer experiments in conjunction with high resolution SIMS suggest that the reactive elements reduce the outward diffusion of cations. Energy dispersive X-ray spectroscopy on a dedicated STEM showed that the reactive elements segregate to the grain boundaries in the oxide scale and to the metal/oxide interface. The amount at the oxide scale grain boundaries was calculated to be 0.2 monolayers for both Zr and Y doped NiAl. The amounts of segregation were calculated to be 0.15 monolayers (Zr-doped) and 0.07 monolayers (Y-doped) at the metal/oxide interface. The presence of sulfur was detected in Y-rich particles in the NiAl close to the interface.
Zusätzliches Material:
9 Ill.
Materialart:
Digitale Medien
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/maco.19950460405
Permalink
