ISSN:
1618-2650
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
Summary Structure, formation and interface reactions of anodic oxides and SiO2 on CdxHg1−xTe have been studied by means of SIMS, AES, XPS, TDMS and the electron microprobe as an example for the application of surface analysis to compound and semiconductor passivation systems.
Notes:
Zusammenfassung Aufbau, Bildungsmechanismus und Grenzflächenreaktionen von anodischen Oxiden und Quarz auf CdxHg1−xTe wurden mit SIMS, AES, XPS, TDMS, SNMS und der Elektronenstrahlmikrosonde untersucht.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF01226794
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