ISSN:
0947-5117
Keywords:
Chemistry
;
Polymer and Materials Science
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Mechanical Engineering, Materials Science, Production Engineering, Mining and Metallurgy, Traffic Engineering, Precision Mechanics
Description / Table of Contents:
EllipsometryEllipsometry, i.e. measuring the thickness of thin films has been applied increasingly to corrosion research in recent years. The author describes the principle of the method as well as the measuring setup and gives some examples concerning the application to the corrosion field, particularly in connection with the formation of passive layers. It is shown that the optical properties of such thin films depend from the nature of these films as well as from the conditions of formation. Up to now, however, one has not succeeded in quantitatively interpreting the changes of optical film properties as a function of film composition and consequently, the composition of the attacking medium. It is important in this context that the layers formed during corrosion are dielectrics and that the electromagnetic behaviour is strongly influenced by lattice defects. The application of the method is expanded by chronoellipsometry involving the simultaneous measurement of the changes of electrical and optical properties during an electrochemical reaction.
Notes:
Die Ellipsometrie, das heißt die Messung der Dicke von dünnen Filmen, ist in den letzten Jahren zunehmend zu Korrosionsuntersuchungen eingesetzt worden. Deu Verfasser beschreibt die Grundlagen der Methode sowie den Aufbau der Meßeinrichtungen und gibt Beispiele für die Anwendung auf dem Korrosionsgebiet, besonders in Zusammenhang mit der Bildung von Passivschichten. Es wird gezeigt, daß die optischen Eigenschaften derartiger dünner Filme sowohl von der Art der Filme als auch von den Entstehungsbedingungen stark abhängen. Bisher ist es jedoch noch nicht gelungen, die änderungen der optischen Filmeigenschaften quantitativ in Abhängigkeit von der Zusammensetzung des Films und damit der Zusammensetzung des einwirkenden Mediums zu deuten. Eine Rolle spielt hierbei auch die Tatsache, daß die bei Korrosion entstehenden Deckschichten Dielektrika sind und daß Gitterfehler das elektromagnetische Verhalten stark beeinflussen. Eine Erweiterung der Methode bildet die Chronoellipsometrie, bei welcher die bei einer elektrochemischen Reaktion auftretenden Veränderungen elektrischer und optischer Eigenschaften gleichzeitig gemessen werden.
Additional Material:
4 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/maco.19680191105
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