ISSN:
1434-601X
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Physics
Notes:
Zusammenfassung Mit dem Elektronen-Spektrographen vonMöllenstedt wurden die charakteristischen Energieverluste von Elektronen beim Durchgang durch dünne amorphe und kristalline As- und Ge-Schichten bestimmt. Aufbau und Struktur der untersuchten Schichten wurden an Hand von Elektronenbeugungs-Aufnahmen verfolgt. Hierbei hat sich, besonders bei As, eine deutliche Strukturabhängigkeit der Energieverluste im Sinne der Theorie vonBohm undPines ergeben. Der Unterschied der Verlustwerte für die amorphen und kristallinen Schichten — bei As von 2 eV — stimmt mit dem Werte aus der Plasmatheorie überein, nur liegen die Absolutwerte der Energieverluste im Experiment um etwa 0,5 bis 1 eV höher.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF01327852
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