ISSN:
0392-6737
Keywords:
Impact phenomena, including electron spectra and sputtering
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Physics
Description / Table of Contents:
Riassunto Si presenta un modello interpretativo della transizione cristallo-amorfo, o del mantenimento di struttura cristallina in leghe binarie sottoposte a bombardamento da fasci ionici energetici. Il modello tiene conto delle principali caratteristiche fisiche date dalle condizioni sperimentali, cioè formazione di spikes energetici ed evoluzione delle variazioni superficiali di composizione indotte dal bombardamento ionico. All'interfaccia spikereticolo si assume che avvengano interazioni interatomiche con scambio di carica, che danno luogo a formazione di nuclei di amorfizzazione, o, rispettivamente, cristallizzazione. Vengono identificate differenze qualitative fra sistemi che presentano transizione vetrosa e sistemi cristallini.
Abstract:
Резюме Предлагаеся модель образования стекла и сохранения кристаллической структуры в бинарных сплавах при облучении энергетическими ионными пучками. Учитывются основные физические процессы, обусловленные условиямнэксперимента, образование термических перегревов и модификация поверхости при облучении. Рассматриваются межатомные взаимодеиствия с перезарядкой, которые индуцируют образовние ядер аморфизации или ядер кристаллизации. Обнаружены каченные различня между образующимися стеклянными и кристаллическимисистемами.
Notes:
Summary A model for glass formation and crystal structure retainment in binary alloys undergoing irradiation by energetic ion beams is presented. The major physical features provided by experimental conditions, namely spike formation and evolution of bombardment-induced surface compositional variations, are taken into account. At spike-lattice interface interatomic interactions with charge transfer occur, which induce formation of amorphization, or crystallization nuclei. Qualitative differences are found between glass forming and crystalline systems.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF02450129
Permalink