ISSN:
1434-601X
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Physics
Notes:
Zusammenfassung Die Methode der Fourier-Analyse der Intensitätskurve wird auf Elektronenbeugungsaufnahmen ausgedehnt. Die Brauchbarkeit dieses Verfahrens wird am Beispiel des festen amorphen Ge gezeigt. An Hand von Elektronenbeugungsaufnahmen werden das feste amorphe und das aufgeschmolzene Bi und Ga sowie die Schmelzen von Sn und In hinsichtlich ihres Aufbaues untersucht. In allen Fällen konnte ein Nebeneinander zweier Strukturen, einer aufgelockerten dichtesten Kugelpackung und einer Flächengitter-Struktur, bis weit über den Schmelzpunkt beobachtet werden. Ob sich dabei die Flächengitter-Struktur bevorzugt an der Oberfläche ausbildet, läßt sich am ehesten mit Neutronenstrahlen entscheiden. Das feste amorphe Bi und Ga mit Flüssigkeits-Struktur sprechen allerdings nicht für einen Oberflächeneffekt. Das Nebeneinander zweier Strukturen kann besonders überzeugend im Falle der Ag-Schmelze nachgewiesen werden. Abschließend wird gezeigt, daß der feste amorphe Zustand als eine verhinderte Kristallisation anzusehen ist.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF01378092
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