ISSN:
1436-5073
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
Summary For determination of the crystallographic orientation, of the lattice parameters and of the crystal structure of micro areas of the material surface, a series of radiographic and electronographic techniques are available. Comparison of their effectiveness shows that they are subject to great limitations with regard to their possibilities of application. For this reason, radiographic microdiffraction techniques were developed, of which two were presented. For investigation of selected crystallites in compact samples, the rotatory swivel technique is suitable. In this technique, the intersection lines of the diffraction cones belonging to the network plane systems can be represented with high contrast on a film. The geometry of these diffraction figures was explained and the determination of the crystallographic orientation and of the lattice parameters illustrated by the example of silicone and alpha-iron. For investigation of micro areas of polycrystalline materials, an X-ray microdiffractometer with annular proportional counting tube was used which registers in one go the intensity contained in one Debye-Scherrer ring. With this arrangement, the course of the mechanical tension in front of a cracked tip and the edge of the crack was determined qualitatively.
Notes:
Zusammenfassung Zur Bestimmung der kristallographischen Orientierung, der Gitterparameter und der Kristallstruktur von Mikrobereichen der Werkstoffoberfläche stehen eine Reihe von röntgenographischen und elek-tronographischen Verfahren zur Verfügung. Eine Gegenüberstellung ihrer Leistungsfähigkeit zeigt, daß sie hinsichtlich ihrer Einsatzmöglichkeiten größeren Einschränkungen unterworfen sind. Deshalb wurden neue röntgenographische Mikrobeugungsverfahren entwikkelt, von denen zwei vorgestellt wurden. Zur Untersuchung ausgewählter Kristallite in kompakten Proben ist das Drehschwenkverfahren geeignet, bei dem durch parallele monochromatische Röntgenstrahlung die Schnittlinien der zu den Netzebenenscharen gehörenden Beugungskegel auf einem Film kontrastreich abgebildet werden. Die Geometrie dieser Beugungsfiguren wurde erklärt und die Bestimmung der kristallographischen Orientierung und der Gitterparameter am Beispiel von Si und α-Fe erläutert. Zur Untersuchung von Mikrobereichen polykristalliner Werkstoffe wird ein Röntgenmikrodiffraktometer mit ringförmigem Proportionalzählrohr verwendet, das die in einem Debye-Scherrer-Ring enthaltene Intensität auf einmal registriert. Mit dieser Anordnung wurde der Verlauf der mechanischen Spannung vor einer Rißspitze und an den Rißufern quantitativ ermittelt.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF01196754
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