Electronic Resource
Tanaka, S.-i.
;
Harima, Y.
;
Hirayama, H.
;
[et al.]
Ban, S.
;
Nakamura, T.
;
Kosako, T.
;
Uwamino, Y.
;
Hashikura, H.
;
Kawai, M.
;
Tanaka, S.
;
Kanai, Y.
;
Sakamoto, Y.
Amsterdam
:
Elsevier
International Journal of Radiation Applications & Instrumentation. Part
39 (1988), S. 241-252